耐用型HAST非饱和试验箱 高压高湿加速老化是半导体、汽车电子、航空航天及消费电子等领域的测试工具。它主要用于快速暴露电子元器件(如IC芯片、PCB、连接器)和材料在恶劣环境下的潜在缺陷,如封装密封性失效、引脚腐蚀、材料老化等,从而为产品可靠性提升和寿命评估提供有力支撑
| 型号:HT-HAST-450 | 浏览量:14 |
| 更新时间:2025-12-24 | 是否能订做:是 |
耐用型HAST非饱和试验箱 高压高湿加速老化的生产厂家,东莞市皓天试验设备有限公司拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品
在半导体、汽车电子及航空航天等领域,产品的长期可靠性直接决定了终端设备的性能与安全。传统的自然老化测试耗时漫长,无法满足快速迭代的研发与严苛的质量管控需求。
非饱和HAST(Highly Accelerated Stress Test)高压加速老化试验箱,正是为解决这一核心痛点而设计的可靠性测试设备。它通过精准模拟并强化高温、高压、高湿(非饱和) 等多重环境应力,在实验室内将产品数年甚至数十年的自然老化过程,加速至数百小时内完成。本设备专为评估芯片封装、半导体器件、电子元件及高分子材料等在严苛环境下的耐久性、密封性和抗湿气能力而打造,是进行失效分析、寿命评估、质量筛选及工艺优化的关键工具。
我们的设备设计与制造严格遵循国际及国内主流可靠性测试标准,确保您的测试数据在地球范围内获得认可:
IEC:IEC 60068-2-66 (试验Cx), IEC 60749
JEDEC:JESD22-A110 (HAST), JESD22-A118 (无偏压HAST/UHAST), JESD22-A102 (PCT)
国标:GB/T 2423.40
汽车电子:AEC-Q100/Q101
行业评价方法:支持如《复杂组件封装关键结构寿命评价方法》(T/CIE 143-2022)等标准中提及的加速寿命试验要求。
耐用型HAST非饱和试验箱 高压高湿加速老化
HAST试验机是提升电子产品可靠性的通用工具,广泛应用于:
半导体与微电子:车规级芯片、IC封装、MOSFET、存储器、传感器等。
电子元器件:PCB/PCBA、LCD模组、连接器、电容、电阻、磁性材料、光电组件(LED、光伏)。
新材料研发:高分子材料、复合绝缘材料、封装胶(如EVA)、特种涂料等耐湿热老化性能评估。
制造:航空航天电子设备、通信设备等可靠性要求很高的领域。
专业的行业理解:我们深度理解芯片封装失效机理(如分层、腐蚀、离子迁移等),能为您提供贴合实际的测试方案建议,而不仅仅是销售设备。
工艺与稳定性:采用圆弧形内胆设计防止冷凝水滴落损坏样品;压力实际感应侦测技术确保温湿压参数精准;长效稳定运行能力满足超过300小时的连续测试需求。
智能化的便捷操作:配备触控系统和数据管理软件,支持远程监控、测试曲线追溯和报告一键生成,大幅降低操作门槛。
完善的售后服务:提供专业的安装调试、操作培训、定期维护和快速响应的技术支持,确保设备在整个生命周期内高效运行。






