简要描述：高温高湿高压老化箱（HAST）是半导体、汽车电子、航空航天及消费电子等领域的测试工具。它主要用于快速暴露电子元器件（如IC芯片、PCB、连接器）和材料在恶劣环境下的潜在缺陷，如封装密封性失效、引脚腐蚀、材料老化等，从而为产品可靠性提升和寿命评估提供有力支撑

高温高湿高压老化箱（HAST）的生产厂家，东莞市皓天试验设备有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品

核心技术参数

温度范围：+105℃ ~ +155℃（可选）

常用测试温度：110℃, 130℃, 145℃

湿度范围：50% ~ 95% RH（非饱和，可调）

*部分型号支持65%-100%RH，可设定饱和模式*

压力范围：0.02 MPa ~ 0.6 MPa（表压）

*约合0.2至6kg/cm²，满足不同标准要求*

控制精度：温度: ±0.5℃; 湿度: ±2.5% ~ ±3% RH

确保测试条件的严苛稳定性和出色复现性

控制模式：支持干湿球控制、非饱和蒸汽、饱和蒸汽三种工作模式，适应多样化的测试方案需求。

遵循的核心标准
我们的设备设计与制造严格遵循国际及国内主流可靠性测试标准，确保您的测试数据在地球范围内获得广泛认可：

国际电工委员会 (IEC)：

IEC 60068-2-66 (试验Cx: 稳态湿热)

IEC 60749 (半导体器件机械和气候试验方法)

固态技术协会 (JEDEC)：

JESD22-A110 (高加速温度和湿度应力测试 - HAST)

JESD22-A118 (无偏压高加速温度和湿度应力测试 - UHAST)

JESD22-A102 (高压蒸煮试验 - PCT)

国家标准 (GB)：

GB/T 2423.40 (环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx: 稳态湿热)

汽车电子领域 (AEC)：

AEC-Q100 (基于集成电路应力测试的失效机理)

AEC-Q101 (分立半导体器件应力测试资质)

高温高湿高压老化箱（HAST）   

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