高温高湿高压老化箱(HAST)是半导体、汽车电子、航空航天及消费电子等领域的测试工具。它主要用于快速暴露电子元器件(如IC芯片、PCB、连接器)和材料在恶劣环境下的潜在缺陷,如封装密封性失效、引脚腐蚀、材料老化等,从而为产品可靠性提升和寿命评估提供有力支撑
| 型号:HT-HAST-180L | 浏览量:37 |
| 更新时间:2026-01-06 | 是否能订做:是 |
核心技术参数
温度范围:+105℃ ~ +155℃(可选)
常用测试温度:110℃, 130℃, 145℃
湿度范围:50% ~ 95% RH(非饱和,可调)
*部分型号支持65%-100%RH,可设定饱和模式*
压力范围:0.02 MPa ~ 0.6 MPa(表压)
*约合0.2至6kg/cm²,满足不同标准要求*
控制精度:温度: ±0.5℃; 湿度: ±2.5% ~ ±3% RH
确保测试条件的严苛稳定性和出色复现性
控制模式:支持干湿球控制、非饱和蒸汽、饱和蒸汽三种工作模式,适应多样化的测试方案需求。
遵循的核心标准
我们的设备设计与制造严格遵循国际及国内主流可靠性测试标准,确保您的测试数据在地球范围内获得广泛认可:
国际电工委员会 (IEC):
IEC 60068-2-66 (试验Cx: 稳态湿热)
IEC 60749 (半导体器件机械和气候试验方法)
固态技术协会 (JEDEC):
JESD22-A110 (高加速温度和湿度应力测试 - HAST)
JESD22-A118 (无偏压高加速温度和湿度应力测试 - UHAST)
JESD22-A102 (高压蒸煮试验 - PCT)
国家标准 (GB):
GB/T 2423.40 (环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx: 稳态湿热)
汽车电子领域 (AEC):
AEC-Q100 (基于集成电路应力测试的失效机理)
AEC-Q101 (分立半导体器件应力测试资质)
高温高湿高压老化箱(HAST)
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