HAST高压加速寿命试验箱

HAST高压加速寿命试验箱的生产厂家，东莞市皓天试验设备有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品

HAST，即高度加速应力测试，是一种通过模拟严苛高温、高湿及高压环境，加速材料老化过程的试验方法。

试验箱内部温度可调节范围达105℃至143℃，相对湿度60%至百%，压力高可达0.2MPa表压。这些参数可根据测试需求精细调控。

非饱和高压环境是HAST的核心特点。与传统的饱和蒸汽老化试验不同，非饱和环境能更有效地模拟实际湿热条件，避免因表面结露导致的局部过度老化。

试验过程中，温湿度均匀度可控制在≤±2℃、≤±5%RH的范围内，确保所有样品处于一致的老化环境中。

核心技术参数

温度范围：+105℃ ~ +155℃（可选）

常用测试温度：110℃, 130℃, 145℃

湿度范围：50% ~ 95% RH（非饱和，可调）

*部分型号支持65%-100%RH，可设定饱和模式*

压力范围：0.02 MPa ~ 0.6 MPa（表压）

*约合0.2至6kg/cm²，满足不同标准要求*

控制精度：温度: ±0.5℃; 湿度: ±2.5% ~ ±3% RH

确保测试条件的严苛稳定性和出色复现性

控制模式：支持干湿球控制、非饱和蒸汽、饱和蒸汽三种工作模式，适应多样化的测试方案需求。

遵循的核心标准
我们的设备设计与制造严格遵循国际及国内主流可靠性测试标准，确保您的测试数据在地球范围内获得广泛认可：

国际电工委员会 (IEC)：

IEC 60068-2-66 (试验Cx: 稳态湿热)

IEC 60749 (半导体器件机械和气候试验方法)

固态技术协会 (JEDEC)：

JESD22-A110 (高加速温度和湿度应力测试 - HAST)

JESD22-A118 (无偏压高加速温度和湿度应力测试 - UHAST)

JESD22-A102 (高压蒸煮试验 - PCT)

国家标准 (GB)：

GB/T 2423.40 (环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx: 稳态湿热)

汽车电子领域 (AEC)：

AEC-Q100 (基于集成电路应力测试的失效机理)

AEC-Q101 (分立半导体器件应力测试资质)

HAST高压加速寿命试验箱  

产品核心亮点

精准的控制能力：采用非饱和蒸汽控制技术，实现对温度、湿度、压力的高精度独立控制与实时监控，确保测试条件严格符合标准要求，测试结果具备很高的复现性与可比性。

高应力加速测试效率：在远高于常规恒温恒湿试验（如85℃/85% RH）的应力条件下运行，能快速激发潜在缺陷，显著缩短产品可靠性验证周期，助力企业抢占市场先机。

安全与可靠性设计：配备多重安全防护（超压、超温、漏电、缺水等自动保护），关键部件采用耐腐蚀材料与强化结构，确保设备在长期高应力测试下的稳定运行与操作安全。

广泛的行业标准兼容性：设备设计严格遵循半导体行业主流可靠性测试标准，确保测试数据在国际供应链及客户群中获得广泛认可与信任。

灵活的多模式测试：支持非饱和（常用）、饱和及干湿球等多种控制模式，一机多用，可满足从标准HAST到无偏压HAST（UHAST）乃至高压蒸煮（PCT）等不同测试协议的需求。

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