多行业HAST非饱和老化箱 高压加速测试是半导体、汽车电子、航空航天及消费电子等领域的测试工具。它主要用于快速暴露电子元器件(如IC芯片、PCB、连接器)和材料在恶劣环境下的潜在缺陷,如封装密封性失效、引脚腐蚀、材料老化等,从而为产品可靠性提升和寿命评估提供有力支撑
| 型号:HT-HAST-450 | 浏览量:11 |
| 更新时间:2025-12-24 | 是否能订做:是 |
多行业HAST非饱和老化箱 高压加速测试的生产厂家,东莞市皓天试验设备有限公司拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品
在半导体、汽车电子及航空航天等领域,产品的长期可靠性直接决定了终端设备的性能与安全。传统的自然老化测试耗时漫长,无法满足快速迭代的研发与严苛的质量管控需求。
非饱和HAST(Highly Accelerated Stress Test)高压加速老化试验箱,正是为解决这一核心痛点而设计的可靠性测试设备。它通过精准模拟并强化高温、高压、高湿(非饱和) 等多重环境应力,在实验室内将产品数年甚至数十年的自然老化过程,加速至数百小时内完成。本设备专为评估芯片封装、半导体器件、电子元件及高分子材料等在严苛环境下的耐久性、密封性和抗湿气能力而打造,是进行失效分析、寿命评估、质量筛选及工艺优化的关键工具。
多行业HAST非饱和老化箱 高压加速测试
温度控制是HAST试验的基石。系统采用PID(比例-积分-微分)智能算法驱动SSR(固态继电器),实现精确的加热控制。
加热器:采用镍铬合金不锈钢护套加热器,功率大、寿命长、热稳定性好。
传感器:采用高精度铂电阻(Pt100) 作为温度传感元件,实时采集箱内温度数据。
控制流程:控制器根据设定值与传感器反馈值的差异,通过PID运算快速调节加热器的输出功率,并通过高效的风道循环系统使热量均匀扩散,最终达到±0.5℃ 级的温度控制精度。
专业的行业理解:我们深度理解芯片封装失效机理(如分层、腐蚀、离子迁移等),能为您提供贴合实际的测试方案建议,而不仅仅是销售设备。
工艺与稳定性:采用圆弧形内胆设计防止冷凝水滴落损坏样品;压力实际感应侦测技术确保温湿压参数精准;长效稳定运行能力满足超过300小时的连续测试需求。
智能化的便捷操作:配备触控系统和数据管理软件,支持远程监控、测试曲线追溯和报告一键生成,大幅降低操作门槛。
完善的售后服务:提供专业的安装调试、操作培训、定期维护和快速响应的技术支持,确保设备在整个生命周期内高效运行。






