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高温高压HAST试验箱 非饱和老化测试

简要描述:

高温高压HAST试验箱 非饱和老化测试 是半导体、汽车电子、航空航天及消费电子等领域的测试工具。它主要用于快速暴露电子元器件(如IC芯片、PCB、连接器)和材料在恶劣环境下的潜在缺陷,如封装密封性失效、引脚腐蚀、材料老化等,从而为产品可靠性提升和寿命评估提供有力支撑

型号:HT-HAST-450 浏览量:13
更新时间:2025-12-24 是否能订做:是

高温高压HAST试验箱 非饱和老化测试的生产厂家,东莞市皓天试验设备有限公司拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品

什么是HAST测试

HAST,即高度加速应力测试,是一种通过模拟严苛高温、高湿及高压环境,加速材料老化过程的试验方法。

试验箱内部温度可调节范围达105℃至143℃,相对湿度60%至%,压力高可达0.2MPa表压。这些参数可根据测试需求精细调控。

非饱和高压环境是HAST的核心特点。与传统的饱和蒸汽老化试验不同,非饱和环境能更有效地模拟实际湿热条件,避免因表面结露导致的局部过度老化。

试验过程中,温湿度均匀度可控制在≤±2℃、≤±5%RH的范围内,确保所有样品处于一致的老化环境中。


支持的可靠测试标准

我们的设备设计与制造严格遵循国际及国内主流可靠性测试标准,确保您的测试数据在地球范围内获得认可:

IECIEC 60068-2-66 (试验Cx), IEC 60749

JEDECJESD22-A110 (HAST), JESD22-A118 (无偏压HAST/UHAST), JESD22-A102 (PCT)

国标GB/T 2423.40

汽车电子AEC-Q100/Q101

行业评价方法:支持如《复杂组件封装关键结构寿命评价方法》(T/CIE 143-2022)等标准中提及的加速寿命试验要求。



高温高压HAST试验箱 非饱和老化测试 

应用领域

HAST试验机是提升电子产品可靠性的通用工具,广泛应用于:

半导体与微电子:车规级芯片、IC封装、MOSFET、存储器、传感器等。

电子元器件PCB/PCBA、LCD模组、连接器、电容、电阻、磁性材料、光电组件(LED、光伏)。

新材料研发:高分子材料、复合绝缘材料、封装胶(如EVA)、特种涂料等耐湿热老化性能评估。

制造:航空航天电子设备、通信设备等可靠性要求很高的领域。



实际测试流程

HAST测试遵循一套系统化的操作流程。样品准备阶段,测试人员会对LED封装或光伏组件样品进行清洁和标记,确保表面无污染。

接着是预处理环节,样品会在25℃、50%相对湿度的标准环境下放置24小时,以消除内部应力。初始测试会记录样品的外观状态、电性能参数等基础数据。

试验参数根据相关标准设定。对于LED测试,常采用的条件是130℃、85%相对湿度、2个大气压;光伏组件则可能采用130℃、85%相对湿度、230KPa的压力条件。

样品被放入试验箱后,持续承受设定的应力条件。试验期间会定期进行中间测试,监测性能变化。达到预定时间或出现失效标准时,试验终止。

试验结束后,样品需在标准大气条件下恢复24小时,然后进行全面评估,与初始数据对比,分析其性能变化和可靠性。










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