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冷热冲击试验箱三箱式温度循环试验机

简要描述:

冷热冲击试验箱三箱式温度循环试验机
产品简介:冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱、快速温度变化,产品主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车零部件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化

型号:TSD-36F-2P 浏览量:1419
更新时间:2020-05-09 是否能订做:是

冷热冲击试验箱三箱式温度循环试验机

参照标准

本试验箱符合GB/T2423.1 低温试验方法、GB/T2423.2高温试验方法。GJB150.5-86温度冲击试验法 、GJB360A-96电子及电气元件试验方法。
GJB 150.3高温试验;GJB 150.4 低温试验;
GB10588-2006 高温试验箱技术条件;
GB10589-2006 低温试验箱技术条件;
GB/T10592高低温试验箱技术条件;
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14标准中所要求的试验

 

冷热冲击试验箱三箱式温度循环试验机

 

 

执行与满足的标准

GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法

GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法

GJB360.7-87 温度冲击试验

SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱,电子产品冷热冲击试验箱,电子产品冷热冲击试验机

 

温度范围:-40℃---10℃~60℃-150℃/-70℃---10℃~60℃-150℃

数码测试高低温厂家箱|50L冷热冲击试验箱设备|两箱式温冲测试箱产品结构:

试验箱结构形式:试验箱采用整体式组合结构形式,既试验箱由位于上部的高温试验箱,位于下部的低温试验箱体、位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜(系统)所组成。此方式箱体占地面积小、结构紧凑、外形美观,制冷机组置于独立的机组箱体内,以减少制冷机组运行时的震动、噪声对试验箱的影响,同时便于机组的安装和,电器控制面板置于试验箱的左侧板上以便于运行操作。

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