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标准版温度循环试验机冷热冲击试验箱

简要描述:

标准版温度循环试验机冷热冲击试验箱
产品简介:冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱、快速温度变化,产品主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车零部件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化

型号:TSE-36F-2P 浏览量:236
更新时间:2020-05-09 是否能订做:是

标准版温度循环试验机冷热冲击试验箱

参照标准

本试验箱符合GB/T2423.1 低温试验方法、GB/T2423.2高温试验方法。GJB150.5-86温度冲击试验法 、GJB360A-96电子及电气元件试验方法。
GJB 150.3高温试验;GJB 150.4 低温试验;
GB10588-2006 高温试验箱技术条件;
GB10589-2006 低温试验箱技术条件;
GB/T10592高低温试验箱技术条件;
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14标准中所要求的试验

 

标准版温度循环试验机冷热冲击试验箱

 高温槽温度范围:+60 ~200℃.

低温槽温度范围:-10℃~-70℃

实验箱冲击温度:高温 +60~150℃.低温 (-10~ -40℃)

高低温转换时间:≤10S

高低温恢复时间:3~5min(非线性空载下)

控制精度:温度±0.2℃(指控制器设定值和控制器实测值之差)

温度波动度:≤0.5℃(温度波动度为中心点实测高温度和低温度之差的一半)

温度误差:≤±1℃(工作室温度控制器显示值的平均温度减去中心点实测的平均温度)

温度均匀度:≤2.0℃(温度均匀度为每次测试中实测高温度和低温度之差的算术平均值)

预热区升温速度: ≥3℃/min(非线性)

预冷区降温速度: ≥2℃/min(非线性)

 

 

执行与满足的标准

GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法

GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法

GJB360.7-87 温度冲击试验

SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱,电子产品冷热冲击试验箱,电子产品冷热冲击试验机

 

温度范围:-40℃---10℃~60℃-150℃/-70℃---10℃~60℃-150℃

数码测试高低温厂家箱|50L冷热冲击试验箱设备|两箱式温冲测试箱产品结构:

试验箱结构形式:试验箱采用整体式组合结构形式,既试验箱由位于上部的高温试验箱,位于下部的低温试验箱体、位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜(系统)所组成。此方式箱体占地面积小、结构紧凑、外形美观,制冷机组置于独立的机组箱体内,以减少制冷机组运行时的震动、噪声对试验箱的影响,同时便于机组的安装和,电器控制面板置于试验箱的左侧板上以便于运行操作。

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