简要描述：标准版温度循环试验机冷热冲击试验箱
产品简介：冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱、快速温度变化，产品主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车零部件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化

标准版温度循环试验机冷热冲击试验箱

参照标准

本试验箱符合GB/T2423.1 低温试验方法、GB/T2423.2高温试验方法。GJB150.5-86温度冲击试验法 、GJB360A-96电子及电气元件试验方法。
GJB 150.3高温试验；GJB 150.4 低温试验；
GB10588-2006 高温试验箱技术条件；
GB10589-2006 低温试验箱技术条件；
GB/T10592高低温试验箱技术条件；
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14标准中所要求的试验

标准版温度循环试验机冷热冲击试验箱

 高温槽温度范围：+60 ~200℃.

低温槽温度范围：-10℃~-70℃

实验箱冲击温度：高温 +60～150℃.低温 (-10～ -40℃)

高低温转换时间：≤10S

高低温恢复时间：3~5min（非线性空载下）

控制精度：温度±0.2℃（指控制器设定值和控制器实测值之差）

温度波动度：≤0.5℃（温度波动度为中心点实测高温度和低温度之差的一半）

温度误差：≤±1℃（工作室温度控制器显示值的平均温度减去中心点实测的平均温度）

温度均匀度：≤2.0℃（温度均匀度为每次测试中实测高温度和低温度之差的算术平均值）

预热区升温速度： ≥3℃/min（非线性）

预冷区降温速度： ≥2℃/min（非线性）

执行与满足的标准

GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A：低温试验方法

GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B：高温试验方法

GJB360.7-87 温度冲击试验

SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验机

温度范围：-40℃---10℃~60℃-150℃/-70℃---10℃~60℃-150℃

数码测试高低温厂家箱|50L冷热冲击试验箱设备|两箱式温冲测试箱产品结构：

试验箱结构形式：试验箱采用整体式组合结构形式，既试验箱由位于上部的高温试验箱，位于下部的低温试验箱体、位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜（系统）所组成。此方式箱体占地面积小、结构紧凑、外形美观，制冷机组置于独立的机组箱体内，以减少制冷机组运行时的震动、噪声对试验箱的影响，同时便于机组的安装和，电器控制面板置于试验箱的左侧板上以便于运行操作。