• 2022

  5-23
  氙灯老化试验箱太阳能电池板专用标签可靠度试验

  氙灯老化试验箱太阳能电池板专用标签可靠度试验1.温度循环：－40℃(30min)←→100℃(30min)、升温2.5小时、降温2.5小时、120cycle2.紫外光照射试验：连续30天(灯管功率800W，波长380nm~400nm，垂直照...

• 2022

  5-20
  JESD22-A119A-2015低温存储寿命试验

  JESD22-A119A-2015低温存储寿命试验说明：在不加任何偏压情况下，藉由模拟低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力，此试验过程不施加偏压，试验结束后回到常温才能够进行电性测试推荐设备：TECIEC60068-2-3试验方法C...

• 2022

  5-20
  恒温设备可靠性测试预处理

  恒温设备可靠性测试预处理JESD22A113I塑料表面贴装器件的可靠性测试之前的预处理说明：针对非密闭SMD零件，在电路板组装过程，因为本身会因为封装水气导致SMD出现损坏，预处理可以模拟在组装过程可能出现的可靠度问题，透过此规范的测试条件...

• 2022

  5-19
  快速温变试验箱在半导体行业中的环境测试

  快速温变试验箱在半导体行业中的环境测试JESD22-A104F-2020温度循环说明：温度循环(TEB)测试是让IC零件经受*温和极低温之间，来回温度转换的可靠度测试，进行该测试时将IC零件重复暴露于这些条件下，经过循环次数，过程成被要求其...

• 2022

  5-19
  冷热冲击试验箱在IC封住行业的可靠性环境测试

  冷热冲击试验箱在IC封住行业的可靠性环境测试JESD22-A102E-2015封装IC无偏压PCT试验说明：用来评价非气密封装器件在水汽凝结或饱和水汽环境下抵御水汽的完整性，样品在高压下处于凝结的、高湿度环境中，以使水汽进入封装体内，暴露出...

• 2022

  5-19
  恒温恒湿试验箱JEDEC半导体可靠度测试与规范

  恒温恒湿试验箱JEDEC半导体可靠度测试与规范JESD22-A100E-2020循环温湿度偏压表面凝结寿命试验说明：透过温度循环+湿度+通电偏压，来测试非密封封装的固态器件在潮湿环境中的可靠度，这个测试规范采用[温度循环+湿度+通电偏压]的...