TSD-80PF-2P-冷热冲击高低温试验箱 半导体芯片测试

冷热冲击高低温试验箱 半导体芯片测试

箱体结构

1、 箱体外壁材料： 防锈处理冷轧钢板+粉体喷涂

2、 箱体内壁材料：SUS304#不锈钢板。

3、 观察窗：高温箱安装矩形多层中空隔热玻璃观察窗一个(350X250mm)。

观察窗上安装照明灯。

4、 保温材料：采用聚氨脂泡沫塑料经高温高压发泡将外壳与低温室连接成一个整体。

5、样品室移动方式：样品上下移动

冷热冲击高低温试验箱 半导体芯片测试

制冷工作原理：高低制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。过程如下: 制冷剂经压缩机绝热压缩到较高压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换，将热量传给四周介质。后制冷剂经膨胀阀绝热膨胀做功，这时制冷剂温度降低。制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。

技术参数：

　　1.型号:TSA-36F-2P 工作室尺寸W×H×D:35*30*35cm

　　2.型号:TSA-80F-2P 工作室尺寸W×H×D:40*35*35cm

　　3.型号:TSA-100F-2P工作室尺寸W×H×D:40*50*50cm

　　4.型号:TSA-150F-2P工作室尺寸W×H×D:60*50*50cm

5.型号:TSA-252F-2P工作室尺寸W×H×D:70×60×65cm

5.型号:TSA-480F-2P工作室尺寸W×H×D:85×80×60cm

材料结构：

1.结构两厢式（高温室）（低温室）

2.内箱材质SUS#304不锈钢

3.外箱材质冷轧钢板静电喷塑

4.冷冻系统机械压缩二元式复叠制冷方式

5.温度传感器JISRTDPT100僮3(白金传感器)

6.控制器液晶显示触摸屏PLC控制器

7.控制方式靠积分饱和PID，模糊算法平衡式调温P.I.D P.W.M S.S.R

8.标准配置附照明玻璃窗口1套、试品架2个、测试引线孔1个

9.电源电压AC380V50Hz三相四线 接地线

10.皓天专业两厢式两箱式高低温冷热温度 冲击检测仪器设备实验箱 定做品牌制造商优质厂家,行业从事十余年