SMA-150PF-半导体恒温恒湿试验箱150L可程式

半导体恒温恒湿试验箱150L可程式

主要特点

本恒温恒湿试验箱箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方、新颖并采用无反作用把手，操作简便。箱体内胆采用进口高级不锈钢（SUS304）镜面板或304B氩弧焊制作而成，箱体外胆采用A3钢板喷塑。 
采用微电脑温度湿度控制器，控温控湿精确可靠。大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且采用双层玻璃，随时清晰的观测箱内状况。设有独立限温报警系统，超过限制温度即自动中断，保证实验安全运行不发生意外。可选配记录仪，打印机能打印记录设定参数和扫描出温湿度变化曲线，4～20mA标准信号。箱体左侧配直径50mm的测试孔。

半导体恒温恒湿试验箱150L可程式

特点： 
　　 不锈钢内壳，外壳为优质冷轧板喷涂或不锈钢发纹板，本设备标准配置有观察窗、进口制冷压缩机，控制部分为*温湿度控制器。温湿度直接显示，程序型温湿度控制器 LCD 显示，中英文交谈式画面。操作方便，附有 PC 机通讯软件、 RS232 通讯端口，支持与 PC 机通讯。 PC 机可记录、存储历史及现行曲线。 
执行标准： 
　 GB10586-93 《湿热试验箱技术条件》 　　
　 GB10592-93 《高低温试验箱技术条件》  
满足条件： 
　　 GB2423.1 、 GB2423.2 、 GB2423.3 、 GB2423.4 《电工电子产品基本环境试验规程：高温试验，低温试验，恒定湿热试验，交变湿热试验》。 
　　 IEC68-2-3 温度、湿度组合试验 
　　 GJB150.3 高温试验 
　　 GJB150.4 低温试验 
　　 GJB150.9 湿热试验