HAST高压老化箱 非饱和蒸汽测试 配置参数

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什么是HAST测试

HAST，即高度加速应力测试，是一种通过模拟严苛高温、高湿及高压环境，加速材料老化过程的试验方法。

试验箱内部温度可调节范围达105℃至143℃，相对湿度60%至百%，压力高可达0.2MPa表压。这些参数可根据测试需求精细调控。

非饱和高压环境是HAST的核心特点。与传统的饱和蒸汽老化试验不同，非饱和环境能更有效地模拟实际湿热条件，避免因表面结露导致的局部过度老化。

试验过程中，温湿度均匀度可控制在≤±2℃、≤±5%RH的范围内，确保所有样品处于一致的老化环境中。

温度范围：100C~145℃(饱和蒸气温度)

温度波动度：0.5℃

温度均匀度：2℃

应用领域

HAST试验机是提升电子产品可靠性的通用工具，广泛应用于：

半导体与微电子：车规级芯片、IC封装、MOSFET、存储器、传感器等。

电子元器件：PCB/PCBA、LCD模组、连接器、电容、电阻、磁性材料、光电组件（LED、光伏）。

新材料研发：高分子材料、复合绝缘材料、封装胶（如EVA）、特种涂料等耐湿热老化性能评估。

制造：航空航天电子设备、通信设备等可靠性要求很高的领域。

支持的可靠测试标准

我们的设备设计与制造严格遵循国际及国内主流可靠性测试标准，确保您的测试数据在地球范围内获得认可：

IEC：IEC 60068-2-66 (试验Cx), IEC 60749

JEDEC：JESD22-A110 (HAST), JESD22-A118 (无偏压HAST/UHAST), JESD22-A102 (PCT)

国标：GB/T 2423.40

汽车电子：AEC-Q100/Q101

行业评价方法：支持如《复杂组件封装关键结构寿命评价方法》（T/CIE 143-2022）等标准中提及的加速寿命试验要求。

HAST高压老化箱 非饱和蒸汽测试 配置参数

工作原理简述

HAST试验的核心原理是利用非饱和高压蒸汽（温度高于100℃，相对湿度低于100%）的高能量状态，极大加速水汽向产品内部的渗透和扩散过程。

环境建立：首先，设备将试验箱内温度升至远高于100℃（如130℃），同时通过蒸汽发生与压力控制，在箱内建立对应的压力（如0.2MPa以上）和预设的非饱和湿度环境。

加速应力：在此环境下，水分子具有T很高的动能和渗透力，能迅速穿透高分子材料、封装缝隙或微小缺陷，抵达芯片、线路等核心部位。

诱发失效：水汽与金属离子结合，在电场（若施加偏压）和高温的共同作用下，诱发电化学腐蚀、枝晶生长、绝缘电阻下降等失效模式，从而在几十到几百小时内模拟出户外数年才能发生的故障。