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您现在的位置:首页 > 产品展示 > 高加速应力试验箱 > HAST高加速应力试验箱 > HT-HAST-350HAST非饱和试验箱

HAST非饱和试验箱

简要描述:

HAST非饱和试验箱 是半导体、汽车电子、航空航天及消费电子等领域的测试工具。它主要用于快速暴露电子元器件(如IC芯片、PCB、连接器)和材料在恶劣环境下的潜在缺陷,如封装密封性失效、引脚腐蚀、材料老化等,从而为产品可靠性提升和寿命评估提供有力支撑

型号:HT-HAST-350 浏览量:10
更新时间:2025-12-24 是否能订做:是

HAST非饱和试验箱的生产厂家,东莞市皓天试验设备有限公司拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品

专注应用领域

本设备广泛应用于所有对可靠性有很高要求的行业,是保障产品品质的“守门员":

半导体与集成电路IC芯片、MCU、功率器件(IGBT)、存储器、传感器等的封装密封性测试、抗湿气能力评估、HCI(热载流子注入)效应测试等。

汽车电子:针对车规级芯片(AEC-Q100)和ECU、BMS、传感器模块,测试其耐受发动机舱高温高湿环境及长期服役的可靠性。

航空航天:机载计算机、导航通信模块等关键电子设备,在严苛高低温循环及高压环境下的耐候性与寿命验证。

PCB与元件:印刷电路板(PCB)、连接器、电感、电容、磁性材料在湿热环境下的性能衰减评估。

新材料研究:高分子材料、复合封装材料(如底填胶)、光伏组件(EVA)、特种涂镀层等在高压湿热条件下的老化行为研究


可靠测试标准

我们的设备设计与制造严格遵循国际及国内主流可靠性测试标准,确保您的测试数据在地球范围内获得认可:

IECIEC 60068-2-66 (试验Cx), IEC 60749

JEDECJESD22-A110 (HAST), JESD22-A118 (无偏压HAST/UHAST), JESD22-A102 (PCT)

国标GB/T 2423.40

汽车电子AEC-Q100/Q101

行业评价方法:支持如《复杂组件封装关键结构寿命评价方法》(T/CIE 143-2022)等标准中提及的加速寿命试验要求。



HAST非饱和试验箱


工作原理简述

HAST试验的核心原理是利用非饱和高压蒸汽(温度高于100℃,相对湿度低于100%)的高能量状态,极大加速水汽向产品内部的渗透和扩散过程。

环境建立:首先,设备将试验箱内温度升至远高于100℃(如130℃),同时通过蒸汽发生与压力控制,在箱内建立对应的压力(如0.2MPa以上)和预设的非饱和湿度环境。

加速应力:在此环境下,水分子具有T很高的动能和渗透力,能迅速穿透高分子材料、封装缝隙或微小缺陷,抵达芯片、线路等核心部位。

诱发失效:水汽与金属离子结合,在电场(若施加偏压)和高温的共同作用下,诱发电化学腐蚀、枝晶生长、绝缘电阻下降等失效模式,从而在几十到几百小时内模拟出户外数年才能发生的故障。



服务与保障

我们承诺提供全面的售前、售中与售后服务:

售前咨询:根据您的具体测试样品和标准,提供定制化的设备配置与测试方案。

交付与培训:专业工程师上门安装调试,并对操作人员进行系统培训,直至其能独立操作。

质量保证:设备整机质保1年,核心部件提供更长周期支持。

技术支持:提供7x24小时电话支持,快速响应维修需求,并可根据需要提供付费的预防性维护计划和期间核查方案。







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