简要描述：两箱冷热冲击试验箱 芯片半导体采用上下或左右两箱体结构，由高温区、低温区及样品移动机构组成。内箱采用SUS304不锈钢，外箱为高强度冷轧钢板喷塑，配备大尺寸观察窗与防爆照明。专为芯片半导体行业设计，支持快速温度切换与精准控制，确保样品在转移过程中不受机械冲击。

两箱冷热冲击试验箱 芯片半导体生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

产品详情
两箱冷热冲击试验箱采用上下或左右两箱体结构，由高温区、低温区及样品移动机构组成。内箱采用SUS304不锈钢，外箱为高强度冷轧钢板喷塑，配备大尺寸观察窗与防爆照明。专为芯片半导体行业设计，支持快速温度切换与精准控制，确保样品在转移过程中不受机械冲击。

两箱冷热冲击试验箱 芯片半导体

用途
主要用于检测芯片、集成电路、半导体元器件、PCB板等微电子器件在急剧温度变化下的耐受能力。通过模拟产品在运输、存储及实际使用中可能遭遇的温差环境，验证其材料特性、焊接可靠性及电气性能的稳定性，为产品研发与质量管控提供关键数据。

技术参数

• 温度范围：高温区 +60℃ ～ +200℃，低温区 -70℃ ～ -10℃

• 温度冲击范围：-65℃ ～ +150℃（可调）

• 温度恢复时间：≤5分钟（3kg负载，5分钟暴露）

• 温度波动度：≤±0.5℃

• 温度均匀度：≤±2.0℃

• 样品承重：5kg ～ 30kg（依型号）

• 内箱容积：50L ～ 300L可选

工作原理
采用气动或电动提篮/导轨机构，将样品快速在高低温区之间往复移动，实现温度骤变。高温区与低温区独立预置所需温度，通过PLC与PID演算控制加热/制冷输出。当样品切换至设定温区后，强制风冷或加热循环系统使样品表面迅速达到目标温度，形成严苛的热胀冷缩应力环境。

满足标准

• GB/T 2423.22（温度变化试验）

• IEC 60068-2-14（环境试验 第2部分：试验N：温度变化）

• JESD22-A104（温度循环）

• MIL-STD-810G（环境工程相关部分）

应用领域

• 半导体封装测试厂（FT/CP测试）

• 芯片设计公司的可靠性实验室

• 消费电子、汽车电子、航空航天电子元器件筛选

• 5G通信模块、功率器件、MEMS传感器验证

• 科研院所新材料与微电子工艺研发

产品特点

• 两箱独立控温，冲击效率高，恢复快

• 彩色触摸屏+可编程控制器，支持多段温度曲线设定

• 故障自诊断与超温、过压、缺相多重保护

• 制冷系统采用环保冷媒，能量调节节能设计

• 样品移动平稳，配有防凝露电热中空玻璃窗口

• 可选配液氮辅助制冷，拓展更低温度需求