半导体冷热冲击试验箱冷热交换测试

半导体冷热冲击试验箱冷热交换测试

使用安全信息:

1.请勿将试品电源接入设备电源中，否则会增加设备电源负荷。除非设备留有试品电源接口。

2.严禁试验易燃、易爆、高腐蚀、强辐射物品。

3.设备通电状态下或运行过程中请勿搬运、检修。

1、高温烫伤，冷热冲击试验箱在做高温试验时箱内温度很高。试验过程中或测试刚结束时，如需打开箱，开门要特别小心，切记，顺着们开启的方向行走，以免烫伤。

2、低温冻伤，冷热冲击试验箱在做低温试验时箱内温度很低。试验过程中或试验刚结束时，如需打开箱门要特别小心，以免冻伤。

3、高温烫伤，冷热冲击试验箱在做高温试验时箱内温度很高。试验过程中或试验刚结束时，如需打开箱门要特别小心，以免烫伤。

4、触电，虽然设备具有健全的防触电措施，但是仍然需要注意，尤其是电器控制系统，工作情况下，切勿触摸电器部分。

半导体冷热冲击试验箱冷热交换测试

标准满足：

GB/T2423.1-2008试验A低温试验方法

GB/T2423.2-2008试验B高温试验方法

GB-T10592-2008高低温箱技术条件

GJB150.3-1986设备环境试验方法:高温试验

GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求

场地

(1)本设备使用过程中会产生大量热量。请将设备按照在通风良好的地方。

(2)请勿靠近易燃材料或易爆环境中使用本设备。

(3)请勿在强磁场和强烈振动环境中使用。