三箱式冷热冲击试验箱封装产品

三箱式冷热冲击试验箱封装产品

电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板电子芯片ic、半导体陶瓷及高分子材料之物力性变化的理想测试工具。

 三箱式冷热冲击试验箱封装产品

参数：

一、高低温区温度范围：高温区部分：+80℃至+200℃。低温区部分：-10℃至-55℃。

二、温度测试范围：高温：+60℃至+150℃。低温：0℃至-40℃。

三、控制精度：+(-)2℃。

四、解析精度：0.01℃。

五、高温区升温时间：自常温至150℃，约60分钟。

六、低温区降温时间：自常温至-40℃，约80分钟。

七、冷热冲击试验箱测试区温度恢复时间：3-5分钟。

技术参数：

型号：TSB-80F-3P

标称容积：80L

试验方式：气动风门切换3温室方式

高温室性能：预热上限温度（+200℃）

高温室升温速率：（+70℃→+200℃≤20min）

低温室性能：预冷下限温度（-75℃）

低温室降温速率：（+70℃→-150℃≤80min）

试验室温度偏差：±2.0℃

试验室高温冲击范围：(+70℃→+150℃)

试验室低温冲击范围：(-10℃→-55℃)

试验室温度恢复时间：≤5min

试样篮高低温室转换时间：≤10s

试样搁架承载能力：30kg

使用时注意事项

  1、冷热冲击试验箱运行过程中，除非有需要，否则绝不要打开箱门，否则可能导致下列不良的后果，高温气流冲出箱外是非常危险的，高温空气可能触发火灾报警，产生错误操作。

  2、请确认冷热冲击试验箱运行时箱门紧闭，开门前，注意箱体内部温度，以免烫伤或冻伤。

  3、避免于十五分钟内反复开启/关闭冷冻机组。

  4、电路断路器和超温保护器是提供本机测试品以及操作者的安全保护，故请定期检查。

  5、所有试样均匀放置，试样的放置应保证在工作室有效空间内。

  6、在插、拔冷热冲击试验箱与计算机的通讯接口连接线时，必须先关掉计算机电源，绝不允许带电插拔，带电插拔有可能损坏控制器或计算机的通讯模块。

  7、请勿在设备高温运行时切断电源，尤其在设备内部存在热负载的情况下，这容易引起局部过热，导致设备内零部件烧毁。