皓天鑫HAST老化箱落户某大学可靠性研究院

近日，皓天鑫 HAST 高加速老化试验箱完成安装调试与验收工作，正式落户某大学可靠性研究院，为该院电子元器件、半导体封装、新材料可靠性研究增添关键试验装备，补齐高压高湿加速老化验证能力，支撑高校基础科研与产学研项目开展。

随着半导体、车规电子等技术快速发展，元器件长期服役可靠性成为科研重点方向。HAST 试验依托高温、高压、高湿复合应力环境，能够快速激发样品封装分层、水汽渗透、界面腐蚀等隐性缺陷，大幅缩短可靠性验证周期，是电子材料与器件失效机理研究设备。

本次研究院经过多轮方案对比与性能评估，选定皓天鑫 HAST 老化箱。设备可精准调控温、湿、压参数，工作腔温场均匀稳定，支持程序编辑、试验数据存储导出，符合 JESD、IEC、GB/T 等国内外可靠性测试标准，配备超温、超压、缺水、门联锁多重安全防护机制，兼顾科研试验的精准性与安全性，适配芯片、PCB、传感器、高分子封装材料等试样的加速老化与失效分析研究。

设备投用后，研究院可面向研究生教学、纵向课题研究、校企联合可靠性项目开展 HAST 加速应力试验，深入研究微电子器件在湿热高压环境下的老化失效规律，为国产电子材料与元器件可靠性技术攻关提供试验数据支撑。

此次与高校可靠性研究院达成合作，是皓天鑫在科研装备领域的又一落地成果。未来皓天鑫将持续深耕环境可靠性试验设备研发，不断优化产品性能与配套技术服务，持续为国内高校、科研院所、技术企业提供稳定可靠的环境试验解决方案，助力国产可靠性测试装备科研应用与产学研协同创新发展。