皓天鑫HAST老化箱成功交付某半导体企业

近日，皓天鑫 HAST 高压加速老化试验箱顺利完成交付、现场安装调试与验收工作，正式入驻国内某半导体企业可靠性实验室，为该企业芯片封装湿热可靠性测试提供国产高性能试验装备支撑，加速新品研发与产品认证进程。

当前半导体行业快速迭代，BGA、QFN 等封装器件对耐湿热、抗水汽渗透能力要求持续提升。HAST 高加速应力试验依托高温、高压、高湿复合应力环境，能够快速激发塑封分层、金属线路腐蚀、漏电、离子迁移等隐性失效问题，将传统湿热上千小时的验证周期压缩至数十小时，是半导体芯片可靠性认证的核心试验设备。

本次交付的皓天鑫 HAST 老化箱严格遵循 JESD22-A110 等半导体行业标准设计，支持 UHAST 无偏压、B-HAST 带电偏压多种试验模式，精准控制温、湿、压耦合参数，实现稳定无凝露测试，规避芯片假性失效，保障试验数据稳定可复现。设备搭载高精度传感系统与多重安全联锁保护，腔体压力、温度、湿度控制均匀性优异，适配半导体封装材料选型、工艺优化与批次质量考核。

项目实施期间，皓天鑫技术团队全程跟进设备进场、管路对接、电气调试，逐项校验压力控制、升温速率、数据采集等核心指标，一次性通过客户现场验收。客户表示，新增 HAST 设备补齐了高压加速老化测试能力短板，大幅缩短芯片可靠性验证周期，提升新品研发效率。

此次成功交付，是皓天鑫在半导体可靠性测试领域的又一次落地实践。未来，皓天鑫将持续深耕环境试验设备研发，面向半导体、汽车电子等领域持续优化产品方案，以稳定可靠的国产试验装备赋能芯片企业品质管控与技术创新。