皓天鑫HAST老化箱交付物联网企业，智能芯片加速老化可靠性测

近日，皓天鑫 HAST 老化箱顺利完成交付，正式入驻国内物联网企业实验室，将用于智能芯片高加速应力老化可靠性验证，为物联网终端产品品质管控与研发迭代提供关键试验支撑。

随着物联网产业快速发展，智能芯片作为物联网感知、数据传输的核心元器件，长期在温湿度、压力交变的复杂工况下工作，极易出现绝缘失效、封装开裂等隐患。常规老化测试周期漫长，难以满足企业新品快速上市需求。HAST 高加速应力试验，通过高温高压高湿的强化环境，大幅缩短芯片老化试验时长，快速暴露封装、引脚、胶体等潜在缺陷，是芯片可靠性评价的重要手段。

本次交付的皓天鑫 HAST 老化箱，采用密闭式高压腔体结构，精准控制腔内温度、湿度与饱和蒸汽压力，温场均匀性优异，升温升压响应迅速。设备搭载智能控制系统，可预设多段试验程序，实时采集并存储试验数据，具备超温、超压、缺水多重安全保护，运行稳定可靠，适配智能芯片、PCB 模组、传感器元器件等样品的高加速湿热老化试验，有效替代传统蒸煮测试。

物联网企业相关负责人表示，物联网设备应用场景繁杂，芯片可靠性直接决定终端产品使用寿命。引入皓天鑫 HAST 老化箱后，实验室可大幅压缩可靠性验证周期，提前筛选不合格芯片样品，在研发阶段识别材料与封装缺陷，降低后期产品失效与售后风险，提升物联网硬件产品市场竞争力。

皓天鑫深耕环境可靠性试验设备领域多年，持续为半导体、物联网、汽车电子行业提供老化测试解决方案。未来，皓天鑫将继续优化 HAST 老化箱、高低温试验箱、冷热冲击试验箱等产品性能，以可靠的试验装备，赋能芯片及电子元器件可靠性研发，助力国内物联网产业高质量发展。