近日,皓天鑫与某检测院达成设备采购合作,皓天鑫 HAST 老化箱正式完成交付安装,成功入驻该院元器件可靠性实验室,为半导体元器件、电子组件高加速应力可靠性测试提供专业试验装备支撑,进一步实验室可靠性验证能力体系。
随着电子元器件朝着小型化、高密度方向发展,产品耐湿热、抗高压蒸煮性能要求持续提升,HAST 高加速老化试验成为元器件可靠性评价检测项目。本次落地的皓天鑫 HAST 老化箱,依托高加速湿热应力原理,在高温高压饱和水汽环境下,快速激发元器件潜在缺陷,大幅缩短可靠性验证周期,可精准评估芯片、封装器件、PCB 板等样品在严苛湿热环境下的失效风险。设备具备稳定的温压控制能力,箱内温场分布均匀,压力调节响应迅速,配套安全联锁保护机制,满足行业相关可靠性测试标准,保障试验数据重复性与准确性。
该检测院元器件可靠性实验室承担大量电子元器件检测、产品认证及科研验证任务,原有试验能力在高加速湿热老化板块存在短板。皓天鑫技术团队结合实验室检测业务需求,完成设备选型、进场安装、调试校准与操作培训全流程服务,保障设备顺利投入使用。HAST 老化箱的投用,补齐了实验室高加速湿热老化测试能力,可承接更多元器件可靠性检测业务,提升检测效率与业务覆盖范围。
皓天鑫深耕环境可靠性试验设备领域多年,持续为第三方检测机构、科研院所、半导体企业提供老化试验、环境模拟整套解决方案。本次合作是双方在可靠性检测领域的良好开端。未来,皓天鑫将持续优化设备性能,做好后期运维技术支持,携手检测院共同提升电子元器件可靠性检测水平,助力国内电子元器件产业高质量发展。




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