近日，环境试验设备品牌皓天鑫与国内半导体企业达成项目合作，定制化冷热冲击试验箱顺利完成现场安装、调试与全项性能核验，正式入驻客户可靠性实验室并通过验收，将为芯片封装、功率器件的冷热冲击可靠性测试提供硬件支撑，助力半导体产品品质管控升级。
当前半导体器件向小型化、高集成方向发展，BGA、QFN 等封装结构由多种异质材料构成，热膨胀系数存在差异，温度急剧交替变化极易引发封装分层、焊点疲劳、键合断裂、电参数漂移等隐性失效。冷热冲击试验作为芯片研发与品控的关键测试工序，可快速模拟器件服役过程中的温差应力，提前暴露工艺缺陷，也是产品满足 JEDEC、AEC‑Q100 等行业规范的重要保障。该半导体企业主要从事工业及车规级芯片研发测试，对设备温度切换速度、控温精度、长期连续运行稳定性提出严苛要求，经过多轮方案比对与技术评估，最终选定皓天鑫冷热冲击箱。
本次交付的冷热冲击箱针对半导体测试场景优化，具备高低温快速切换能力，温场均匀性优异，可长时间不间断开展循环冲击试验，测试数据重复性高，适配多类型芯片封装样品测试需求。皓天鑫技术团队抵达现场后，完成设备就位、接线调试、程序验证等一系列工作，双方对照技术协议逐项核验温度指标、循环程序、安全保护、数据记录等功能，经过多轮实测验证，全部参数达到设计标准，顺利完成验收签字。
此次项目落地，是半导体行业对皓天鑫设备性能与技术服务能力的认可。未来皓天鑫将持续深耕国产环境模拟设备研发，面向半导体、新能源、汽车电子等领域输出可靠测试装备与整体解决方案，助力国内制造业可靠性测试能力持续提升。
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