HAST试验箱半导体集成电路高应力可靠性测试是半导体、汽车电子、航空航天及消费电子等领域的测试工具。它主要用于快速暴露电子元器件（如IC芯片、PCB、连接器）和材料在恶劣环境下的潜在缺陷，如封装密封性失效、引脚腐蚀、材料老化等，从而为产品可靠性提升和寿命评估提供有力支撑
| 型号:HT-HAST-800 | 浏览量：45 |
| 更新时间：2026-01-05 | 是否能订做：是 |
本HAST（高加速应力测试）试验箱是专为半导体集成电路、封装、功率器件等电子元器件设计的可靠性测试设备。它通过精确控制高温、高湿、高压的非饱和蒸汽环境，在实验室条件下极速模拟并加速长期使用中可能出现的潮湿失效、腐蚀、离子迁移等故障，将长达数年的自然老化过程缩短至数百小时内，是产品研发、质量认证与失效分析的核心工具。
精准的控制能力：采用非饱和蒸汽控制技术，实现对温度、湿度、压力的高精度独立控制与实时监控，确保测试条件严格符合标准要求，测试结果具备很高的复现性与可比性。
高应力加速测试效率：在远高于常规恒温恒湿试验（如85℃/85% RH）的应力条件下运行，能快速激发潜在缺陷，显著缩短产品可靠性验证周期，助力企业抢占市场先机。
安全与可靠性设计：配备多重安全防护（超压、超温、漏电、缺水等自动保护），关键部件采用耐腐蚀材料与强化结构，确保设备在长期高应力测试下的稳定运行与操作安全。
广泛的行业标准兼容性：设备设计严格遵循半导体行业主流可靠性测试标准，确保测试数据在国际供应链及客户群中获得广泛认可与信任。
灵活的多模式测试：支持非饱和（常用）、饱和及干湿球等多种控制模式，一机多用，可满足从标准HAST到无偏压HAST（UHAST）乃至高压蒸煮（PCT）等不同测试协议的需求。
参数类别 | 规格描述 | 备注与说明 |
温度范围 | +105℃ ~ +155℃ | 常用测试温度为 110℃, 130℃, 145℃ |
湿度范围 | 50% ~ 95% RH（非饱和，可调） | 部分型号支持 65%-100% RH，可设定饱和测试模式 |
压力范围 | 0.02 MPa ~ 0.6 MPa（表压） | 约合 0.2 至 6 kg/cm²，满足不同严苛等级的测试要求 |
控制精度 | 温度: ±0.5℃；湿度: ±2.5% ~ ±3% RH | 确保测试条件的严苛稳定性，保障数据准确性 |
控制模式 | 干湿球控制 / 非饱和蒸汽 / 饱和蒸汽 | 可根据测试标准（如JESD22-A110与A118）灵活切换 |
内箱材质 | 高级不锈钢（SUS304或以上） | 耐腐蚀性，保证长期测试的洁净度与设备寿命 |
HAST试验箱半导体集成电路高应力可靠性测试
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