半导体桌上型恒温恒湿试验箱 36L SM系列

半导体桌上型恒温恒湿试验箱 36L SM系列

台式恒温恒湿试验箱性能指标符合GB5170、2、3、5、6-95《电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温、高温、恒定湿热、交变湿热试验设备》的要求

半导体桌上型恒温恒湿试验箱 36L SM系列

电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca：恒定湿热试验方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
二、产品用途:
台式恒温恒湿试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域*的检测设备，用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行恒定试验的温湿度环境变化后的参数及性能。

性能指标:    
1.温度范围: 室温+10℃~150℃
2.温度波动度: ≤±0.5℃
3.温度均匀度：≤±2℃
4.湿度范围：85～98％R.H
5.湿度偏差：±3%R.H
6.湿度波动：±2.5%R.H
7.精度范围: 温度：设定精度±0.1℃，指示精度±0.1℃，解析度±0.1℃；湿度：设定精度±1％R.H，指示精度±1％R.H，解析度±1％R.H
5.升温速率: 1.0～3.0℃/min 

执行与满足标准
1.GB/T10589-1989低温试验箱技术条件；
2.GB/T10586-1989湿热试验箱技术条件；
3.GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件；
4.GB/T2423.50-1999恒定湿热试验Ca；
5.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
6.GB/T2423.4-2008交变湿热循环试验；
7.GB/T2423.34-2005温湿度组合循环试验。