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芯片测试可程式上、下层恒温恒湿试验箱

简要描述:

芯片测试可程式上、下层恒温恒湿试验箱
采用远红外镍合金高速加温(2KW×2)电加热器;高温*独立系统,不影响低温试验、高温试验及交变湿热;温湿度控制输出功率均由微电脑演算,以达高精度及效率之用电效益。

型号:SPE-80L-2P 浏览量:1260
更新时间:2023-10-24 是否能订做:是

芯片测试可程式上、下层恒温恒湿试验箱

温度控制器

1、进口TEMI880真彩液晶显示7宽屏,全中文液晶显示LED触摸式面板,画面对谈式输入资料,温湿度同时可程式控制,背光灯17段可调,曲线显示,设定值/显示值曲线

2、控温仪规格:精 度:0.1℃ 解 析 度:0.1℃

3、测 温 体:Pt100测试传感器

4、控制方式:热平衡调温调湿方式

5、带RS232 和RS485 计算机接口实行人机对话、联机数据传输及远程控制功能

6、配送智能化计算机控制支持软件系统

7、仪表可显示设定参数、当前运行程式号、当前运行步及步剩余时间、加热器工作状态、加湿器工作状态、程式运行趋势、循环剩余次数

8、程式自动运行、停机后自动断电

9、仪表能实现手动PID控制及PID自整定功能

10、仪表能展现八天程式运行曲线

11、仪表能实行予约自动运行及及时运行

12、仪表能定值控制与程式控制进行无忧切换

13、控制方式与特色:平衡调温控制系统(BTHC),以P.I.D.方式控制SSR。

可程式上、下层恒温恒湿试验箱直销厂家

芯片测试可程式上、下层恒温恒湿试验箱

技术参数:

1.型      号:SPE-80L-2P   

2.温 度 范围:- 70℃~ +150 ℃

3.湿 度 范围: 20%~98%RH (可调式)

4.温度波动度: ±0.5℃ 均匀度:±2℃

5.湿度波动度: ±2%R•H 均匀度:+2%~3%R•H

6.升降温速率: 0.7~1℃/min

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