简要描述：微电子组件双85试验恒温恒湿试验箱可编程
各大高校、实验室、写字楼以及科研单位的选择：结构设计周全，水电分离设计：噪音控制在62DB一下。
温度均匀性好，试验精度高：
同温层设计、防止试验顶部滴水：

微电子组件双85试验恒温恒湿试验箱可编程

高低温测试：

高温试验详细介绍：本试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。参考的测试标准：GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，IEIA 364， MIL-STD-810F等。

低温试验介绍：本试验是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。参考的测试标准：GB/T 2423.1，IEC 60068-2-1，EIA 364， MIL-STD-810F等。

高低温试验箱介绍：本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。参考的测试标准：IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等

微电子组件双85试验恒温恒湿试验箱可编程

设备的用途：

该设备主要是针对于电工、电子产品，以及其原器件，及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。

该试验设备主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求，在低温、高温、条件下，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。

温湿度箱选择

将被试产品（元器件、组件、部件或整机）置入气候环境箱进行试验时，为了保证被试产品周围气氛能满足试验规范所规定的环境条件，气候箱工作空间尺寸与被试产品外廓尺寸之间应遵循以下几点规定：

a 被试产品的体积（W×D×H）不得超过试验箱有效工作空间的（20-35）（推荐选用20）。对于于30 1． 温湿度箱容积的选择

在试验中发热的产品推荐选用不大。

b 被试产品的迎风断面积与该断面上试验箱工作腔总面积之比不大于（35-50）（推荐选用35）。

c 被试产品外廓表面距试验箱壁的距离至少应保持100-150mm，（推荐选用150mm）。

控制系统优势

设备系统采用自主开发的温湿度控制加模糊逻辑控制系统，中英文菜单式人机对话操作方式，操作参数少，操作过程简单是本设备的特点。并具有开机自检功能，温度湿度线性校正,自动停机，系统预约定时启动功能。具备自动组合制冷、加热、真空等子系统的工况，从而保证在整个温度范围内的高精度控制，为了解决能耗问题该控制系统采用冷端调节控制方式，该控制方式获得了国家证书并且改变整个行业的设备能耗问题。

*的检测装置能自动进行详细的故障显示、报警，如当试验箱发生异常时，控制器用中文汉字显示故障状态。同时具备历史数据表趋势图及历史故障记录的储存功能。同时根据用户的需求该控制系统可扩展模块通过接入以太网设备能够具备物联网功能模式，可以通过任何移动终端监控设备时时运行状态。设备管理系统能够时时监控设备各个参数和主要元器件的运行情况，这样*的软件监控系统属于行业内得到用户高度评价