皓天鑫HAST老化试验箱签约半导体企业实验室

近日，皓天鑫与国内半导体企业达成合作签约，HAST 高压加速老化试验箱成功入驻该企业可靠性实验室，为芯片封装器件湿热可靠性测试提供国产试验装备支撑，助力企业芯片研发与品质验证体系，加快产品认证落地。

随着半导体封装技术持续迭代，BGA、QFN 等高密度封装芯片对防潮、抗离子迁移能力要求不断提高。HAST 高加速应力测试通过高温、高压、高湿复合应力环境，快速激发塑封分层、引脚腐蚀、漏电等隐性失效，将传统湿热上千小时验证周期压缩至数十小时，是半导体可靠性认证核心设备。

本次签约的皓天鑫 HAST 老化试验箱，严格遵循 JESD22-A110 行业标准设计，支持 UHAST 无偏压、B-HAST 带电偏压多种测试模式。设备采用非饱和蒸汽控湿技术，有效避免样品凝露造成假性失效；温、湿、压多参数耦合控制精度高，腔体内环境均匀稳定，保障试验数据重复性。整机搭载超温、超压、缺水多重安全联锁保护，可长期稳定连续运行，适配芯片封装材料选型、工艺优化与批量质量考核。

项目落地阶段，皓天鑫将提供生产出厂校验、现场安装调试、实验室人员操作培训全流程服务，配套长期校准、定期巡检、快速售后响应保障体系，保障实验室常态化测试工作。

此次合作落地，标志皓天鑫环境试验装备在半导体可靠性领域的应用持续深化。未来皓天鑫将持续深耕半导体、车规电子测试场景，打磨高性能环境试验设备，为国内芯片企业提供稳定可靠的可靠性测试解决方案，赋能国产半导体产业高质量发展。