近日,国内某电子科技集团完成与皓天鑫(东莞市皓天试验设备有限公司)签约,采购 HAST 高压加速老化试验箱,设备将进驻集团可靠性实验室,用于半导体封装器件、精密电子组件的高加速应力可靠性验证,助力企业提升产品研发质控水平,加快新品验证迭代速度。
该电子科技集团专注电子元器件研发与产业化,产品应用于工业控制、通信电子等领域。随着产品集成度持续提升,塑封芯片、功率器件面临潮湿环境引发的封装分层、金属腐蚀、绝缘失效等风险,对加速老化测试设备提出严苛要求。经过多轮技术评审、实地考察与对标测试,集团最终选定皓天鑫 HAST 老化箱。设备满足 JEDEC JESD22-A110 标准,依托高温高压高湿应力环境,快速激发样品湿气相关潜在缺陷,相比传统湿热测试,可大幅压缩老化验证周期,精准复现产品长期服役失效模式。
皓天鑫 HAST 老化箱采用密闭承压结构,温压湿控制精度高,无凝露设计,规避假性失效问题;配套智能控制系统,试验曲线实时记录,测试数据可追溯,满足企业标准化实验室管理要求。皓天鑫提供上门安装、设备校准、人员实操培训及长期运维等一站式交付服务,保障设备快速落地投产。
本次合作,是该集团可靠性测试平台布局的重要举措,补齐高加速湿热老化测试能力短板。同时也体现皓天鑫在国产 HAST 试验装备领域的技术实力,实现进口设备替代,解决行业设备采购成本高、售后响应慢的痛点。未来,皓天鑫将持续深耕环境可靠性试验装备研发,持续为电子、半导体行业客户提供稳定可靠的试验设备与全套测试解决方案,携手国产电子企业共同提升核心产品可靠性竞争力。



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