皓天鑫HAST老化试验箱成功交付某半导体某企业

近日，皓天鑫 HAST 老化试验箱顺利完成交付并投入使用，助力国内某半导体企业芯片加速老化可靠性验证能力，为半导体封装器件研发与品质管控提供坚实的环境试验支撑。

随着半导体行业快速发展，芯片、封装元器件对耐湿热、耐高压加速老化测试要求持续提升。HAST 高压加速老化试验箱可模拟高温高压高湿严苛环境，大幅缩短元器件老化试验周期，快速暴露封装材料、引脚、胶体等潜在缺陷，是半导体封装可靠性验证核心设备。本次交付的皓天鑫 HAST 老化试验箱，针对半导体芯片测试工况优化，腔体温湿度控制稳定，压力调节精度高，具备安全联锁、超温超压保护系统，满足半导体行业严苛测试规范，可高效完成集成电路、分立器件等样品的加速老化试验。

项目落地阶段，皓天鑫技术团队全程跟进设备生产、出厂检测、现场安装调试与人员培训工作。从设备进场就位、管路连接、通电校验，到操作指导、试验参数设置教学，每一步严格把控，保障设备一次性验收合格。同时建立配套售后保障机制，为客户提供长期校准、故障响应、定期维护等一站式服务，保障产线研发测试稳定运行。

本次合作，标志着皓天鑫环境试验设备在半导体领域应用再进一步。皓天鑫将持续深耕可靠性试验装备研发，不断优化 HAST、高低温、冷热冲击等系列试验设备性能，贴合芯片、功率半导体、车载电子等行业测试需求，以稳定可靠的试验装备与专业技术服务，助力更多半导体企业缩短研发周期，提升产品可靠性，护航国内半导体产业高质量发展。