近日,皓天鑫高精度恒温恒湿试验箱顺利通过国内半导体企业验收,正式投入芯片封装元器件湿热可靠性测试,凭借稳定的控制性能、可靠的连续运行能力,赢得客户技术团队高度认可,标志皓天鑫环境试验方案在半导体精密检测领域再添案例。
半导体芯片封装器件集成度高,对温湿度变化极其敏感,微小波动就可能引发封装分层、金属迁移、电性漂移等隐性失效。双 85 湿热、温湿度交变等可靠性试验是芯片研发与品控的关键环节,需要试验设备长时间稳定输出均匀温湿度场,同时满足 JEDEC 相关测试规范,对设备精度、防凝露设计、数据追溯都提出严苛要求。客户前期对多家设备厂商进行对比评估,开展长时间样机验证,综合考量控温精度、重复性、运维成本及本地化售后能力,最终选择皓天鑫恒温恒湿试验箱。
本次交付的恒温恒湿试验箱针对半导体测试场景优化升级,搭载智能 PID 调控系统与高精度传感器,温湿度控制响应快、波动小,箱内温场均匀,有效保障试验结果的一致性与可复现性。设备配备防凝露结构,避免水汽污染精密芯片样品;支持多段程序设定、自动存储试验曲线,测试数据可追溯,方便实验室报告归档。同时设置超温、缺水、过载等多重安全保护,可满足长时间不间断老化测试需求。
客户表示,设备安装调试完成后,连续多轮验证试验数据稳定,达到实验室预期指标。皓天鑫技术团队全程跟进安装、校准与操作培训,高效的技术服务也是本次合作的重要考量。
此次获半导体客户认可,是市场对皓天鑫产品实力的肯定。未来,皓天鑫将持续深耕半导体、车规电子等可靠性测试赛道,不断优化环境试验设备性能,为国产芯片研发与品质验证提供稳定可靠的试验装备支撑。
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