项目签约成功 皓天鑫冷热冲击箱支撑消费电子可靠性研发测试

近日，皓天鑫与国内某消费电子企业正式完成签约，其自主研发的冷热冲击试验箱将全面入驻该企业研发实验室，为智能手机、可穿戴设备等消费电子产品的可靠性研发测试提供关键技术支撑。

随着消费电子产品向折叠屏、快充等方向迭代，用户在冬季户外与暖气房切换、游戏高负载运行等场景中，设备需频繁承受剧烈的温差冲击。数据显示，温度循环引发的热应力是导致电子元器件失效的主要因素之一，芯片封装开裂、焊点疲劳、屏幕触控失灵等问题往往源于温变工况。皓天鑫冷热冲击试验箱可精准模拟-70℃至150℃的严苛温度环境，通过独立高低温分区与快速风门切换技术，实现10秒内完成温度骤变，温控波动低至±0.5℃，有效复刻产品在真实使用场景中遭遇的“冰火考验"。

在研发测试阶段，该设备可对PCB板、电池模组、柔性屏铰链等核心部件进行系统性可靠性验证，提前暴露焊点分层、材料脆化、胶粘失效等潜在缺陷，帮助研发团队在试产阶段优化设计工艺。设备搭载智能控制系统，支持万次循环程序编辑与测试数据自动存储，为产品迭代提供可追溯的量化依据。

皓天鑫技术团队表示，此次合作将结合客户产品特性提供定制化测试方案及全流程技术培训，确保设备高效赋能研发环节。未来，皓天鑫将持续深耕环境可靠性测试领域，以高精度国产测试设备助力消费电子产业品质升级。