来源：皓天鑫设备有限公司          2026年01月08日 11:18
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近日，皓天鑫自主研发的HAST稳态湿热寿命老化箱顺利通过连续1000小时稳定运行测试。在整个测试期间，设备始终保持设定的高温高湿稳态环境，各项性能参数精准稳定，实现了芯片老化测试连续可靠运行的新突破。该测试结果有效应对了芯片行业在长期可靠性验证中“测试周期长、环境波动大、数据一致性难保障"的普遍难点，为半导体与集成电路产品的持续高质量验证提供了坚实支撑。

在芯片可靠性测试领域，设备能否在高温、高湿、高压条件下持续稳定运行，直接关系到芯片寿命评估的准确性与测试效率。传统老化箱在连续长时间运行中，容易出现温湿度漂移、均匀性下降等问题，不仅影响测试进程、拉长产品上市周期，还可能因环境波动导致测试结果无效，造成研发资源与时间的双重损耗。尤其在芯片验证阶段，设备稳定性已成为保障测试数据可靠、加快产品迭代的关键一环。

皓天鑫HAST稳态湿热寿命老化箱能够实现千小时连续稳定运行，核心在于其多层次的技术保障体系。设备采用高密封性箱体结构与均匀循环风道设计，确保箱内各点温湿度分布高度一致；选用进口高精度传感器与闭环控制系统，实时动态调节温湿度参数，将波动范围控制在±0.5%以内；搭载智能预警与数据记录系统，可实时监测试验状态，提前预警潜在异常，确保测试过程全程可追溯、可分析。

测试数据表明，设备在连续1000小时运行期间，温度均匀性保持在±0.3℃以内，湿度偏差不超过±1.5%RH,各项指标均符合芯片行业严苛的测试标准。相较于常规设备，其连续运行时长与参数稳定性显著提升，可支持企业开展不间断、高一致性的老化验证工作，极大提高了测试效率与数据可信度。

此次测试获得行业内多家芯片设计企业与检测机构关注，部分客户已前往实地考察并洽谈合作。皓天鑫相关负责人表示，设备长期稳定运行是可靠性测试装备的核心价值，本次测试充分体现了公司在环境模拟与长效控制方面的技术积累。未来，公司将继续聚焦高可靠、智能化的测试设备研发，为芯片行业提供更精准、更稳定的寿命验证解决方案。行业分析认为，该设备的成功应用，标志着国内芯片老化测试装备在长效稳态运行方面取得重要进展，将推动相关测试由“分段式"向“连续化、高可靠"阶段迈进。